Otros

• Medición de espesores e índice de refracción de películas delgadas mediante elipsometría.

• Procesos en horno con atmósfera controlada (reducción, recocido, etc).

• Tratamiento superficial de materiales usando un desbastador de plasma (atmósfera inerte)

• Recubrimiento de superficies usando sistema de deposición de capas atómicas (ALD)

• Caracterización magnética por MOKE (curva de histéresis a temperatura ambiente. Rango campos 0.4 Tesla. El sistema permite medir longitudinal y perpendicularmente (modo polar) a la muestra.

• Caracterización magnética por MOKE (Reversión de la magnetización, visualización de dominios magnéticos) a temperatura ambiente. Rango campos 0.4 Tesla. El sistema permite medir longitudinal y perpendicularmente (modo polar) a la muestra.

• Almacenamiento y manipulación de materiales en atmósfera con niveles controlados de oxígeno y humedad (cámara seca).

• Simulaciones micromagnéticas para predecir/estudiar propiedades de materiales magnéticos micro y nanométricos.

• Dispersión de rayos X de ángulos amplios (WAXS) para determinar la estructura cristalina de polímeros.

• Dispersión de rayos X de ángulos amplios (SAXS) para determinar distribución de tamaño de NP’s, tamaños de poros, etc.

• Dispersión de rayos X de ángulos pequeño con incidencia rasante (GISAXS)